截点法比面积法更好。
X1.3.4 图X1.5每个测量者对每张显微照片使用面积法和截点法测定对应的晶粒度，数据
沿着一条直线随机分布，这就表明这两种方法在晶粒尺寸的测量上没有偏差。 X1.3.5 每种显微照片都可认为在两种方法下对晶粒度进行评定，一种是按照照片的标准放大倍数，第二种是比如在100放大倍数下进行评定。运用比较法时，认为每张显微照片都是放大100倍的，截点法和面积法的数据也是在此假设下计算的数据。图X1.6和X1.7表示的是在100倍下，比较法的测定结果相对于面积法和截点法的测定的结果。可以看出数据不是随机分散分布在一条直线上，这清楚表明图表比较法是有偏差的，比面积法和截点法测得的结果低0.5－1G级，这种偏差的来源正在研究中。