NB/T 47013.2—××××（JB/T 4730.2）
3 术语和定义
GB/T 12604.2 和NB/T 47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1
透照厚度W penetrated thickness
射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。 3.2
工件至胶片距离b object-to-film distance
沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。 3.3
射线源至工件距离f source-to-object distance
沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位射线源侧表面之间的距离。 3.4
焦距F focal distance
沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。 3.5
射线源尺寸d source size 射线源的有效焦点尺寸。 3.6
圆形缺陷 round flaw
长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 3.7
条形缺陷 stripy flaw
长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 3.8
透照厚度比K ratio of max. and min. penetrated thickness 一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度和最小厚度之比。 3.9
一次透照长度 effective area of a single exposure 符合标准规定的单次曝光有效检测长度。 3.10
底片评定范围 film evaluation scope
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本部分规定底片上必须观察和评定的范围。 3.11
缺陷评定区 defect evaluation zone
在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方形。 3.12
双胶片透照技术 double film technique
暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进行底片观察的透照技术。 3.13
小径管 small diameter tube
外直径Do小于或等于100mm的管子。 4 一般要求 4.1 检测人员
4.1.1 从事射线检测的人员应满足NB/T 47013.1的有关规定。
4.1.2 从事射线检测的人员在上岗前应进行辐射安全知识的培训，并按照有关法规的要求取得相应证书。
4.1.3 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533的规定。从事评片的人员应每年检查一次视力。 4.2 检测设备和器材 4.2.1 射线装置
4.2.1.1 可以使用两种射线源： a） 由X射线机和加速器产生的X射线； b） 由Co60、Ir192、Se75、Yb169 和Tm170射线源产生的γ射线。 4.2.1.2 经合同双方商定，允许采用其他新型射线源。采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行。 4.2.2 射线胶片 4.2.2.1 胶片系统按照GB/T 19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录A。 4.2.2.2 胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按GB/T 19348.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片。胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射。 4.2.3 观片灯
观片灯的主要性能应符合GB/T 19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。 4.2.4 黑度计（光学密度计）
4.2.4.1 黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。
关于射线胶片 关于新放射源 3
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4.2.4.2 黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行一次核查，形成核查报告。核查方法可参照附录B的规定进行。在工作开始时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。
3.4 黑度计（光学密度计）
3.4.2 黑度计至少每6个月校验一次。校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。 B.2.6 所使用的标准黑度片至少应每2年送计量单位检定一次。
4.2.5 标准密度片
标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0~4.5黑度范围，应至少每2年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。 4.2.6 增感屏
4.2.6.1 射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T 5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。
4.2.6.2 使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好。增感屏的选用应符合表1的规定。
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表1 增感屏的材料和厚度
射线源 X射线（≤100kV） X射线d 材料 铅 铅 铅 铅 铅 铅 前屏 厚度/mm 不用或≤0.03 ≤0.10 0.02～0.15 0.02～0.20 不用或≤0.03 0.02～0.15 A级 0.02～0.20 后屏 厚度/mm ≤0.03 ≤0.15 0.02～0.15 0.02～0.20 不用或≤0.03 0.02～0.15 A级0.02～0.20 AB级、B级 0.10～0.20 A级 0.02～0.20 AB级、B级 0.10～0.20 0.25～0.70 0.50～2.0 0.25～0.70 0.50～2.0 铜、钢≤1.0 钽≤0.50 0.50～1.0 中屏c 厚度/mm — 2×0.02～2×0.10 2×0.02～2×0.10 2×0.02～2×0.10 — 2×0.02～2×0.10 2×0.10 2×0.10 2×0.10 2×0.10 0.25 2×0.10 0.25 2×0.10mm或不用 0.25 0.25 2×0.10mm或不用 （＞100 kV～150kV） X射线d （＞150 kV～250kV） X射线d （＞250 kV～500kV） Tm170 Yb169 d Se75 铅 AB级、B级 0.10～0.20 a A级 0.02～0.20 Ir192 铅 AB级、B级 0.10～0.20 a 0.25～0.70 0.50～2.0 0.25～0.70 0.50～2.0 钢或铜 Co60 b 铅 （A级、AB级） X射线 （1MeV～4MeV） 钢或铜 铅 （A级、AB级） 铜、钢或钽 铅 （A级、AB级） a X射线 （4MeV～12MeV） ≤ 1.0 0.50～1.0 如果AB级、B级使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm～0.15mm厚的附加铅屏。 采用Co60射线源透照延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm≥540MPa材料时，AB级和B级应采用钢或铜增感屏。 双胶片透照技术应增加使用中屏。 采用X射线和Yb169射线源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度。 b c d 4.2.7 像质计
4.2.7.1 底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T 23901.2的规定。
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4.2.7.2 像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。
表2 不同材料的像质计适用的材料范围
像质计材料代号 像质计材料 适用材料范围 Al 工业纯铝 铝，铝合金 Ti 工业纯钛 钛，钛合金 Fe 碳素钢 钢 Ni 镍－铬合金 镍－镍合金 Cu 3#纯铜 铜,铜合金 4.2.8 暗室安全照明时间确定
胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条件下进行暗室处理，暗室安全照明时间的确定方法可参考附录C进行。 4.3 检测技术等级
4.3.1 射线检测技术分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。
4.3.2 射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。承压设备对接焊接接头的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。
4.3.3 检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。
4.3.4 承压设备在用检测中，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。
3.8.1 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标
与2005版对照 准及设计图样规定。承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设
备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。 3.8.2 由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时, 经检测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定,则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。
3.8.3 承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时, 经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。
4.4 射线检测工艺规程
4.4.1 射线检测通用工艺规程的基本要求
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