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图3 AB级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图
5.7.2 采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。
5.7.3 采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求，f值可以减
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小，但减小值不应超过规定值的20%。
5.7.4 安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁中心透照方式（附录D中图D.9和图D.13）时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。 5.7.5 安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁偏心透照方式（附录D中图D.10和图D.14）时，只要得到的底片质量符合5.16.1和5.16.2的要求f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。
5.8 胶片与被检工件之间的距离
曝光期间，胶片应紧贴于工件，除非有特殊规定或透照布置能使被检区域得到更好的透照影像。管座角焊缝源在内透照时，胶片应尽可能的靠近被检工件焊缝。 5.9 曝光量
5.9.1 Ｘ射线照相，当焦距为700mm时，曝光量的推荐值为：A级和AB级射线检测技术不小于15mA·min；B级射线检测技术不小于20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。
5.9.2 采用γ射线源透照时，总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的10倍。
5.9.3 采用γ射线源透照时，曝光时间不应超过8h，且不得采用多个射线源捆绑方式进行透照。 5.10 曝光曲线
5.10.1 对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。 5.10.2 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。
5.10.3 对使用中的曝光曲线，每年至少应核查一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行核查或重新制作。
5.10.4 采用采用γ射线源时，可采用曝光尺等方式计算曝光时间。 5.11 无用射线和散射线屏蔽
5.11.1 应采用金属增感屏、铅板、滤光板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。钢制承压设备滤光板推荐的技术要求见附录H
5.11.2 对初次制定的检测工艺，以及在使用中检测条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。
检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般B铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm，按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护不够，应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现“B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。
在背散射轻微或后增感屏足以屏蔽背散射线的情况下，可不使用背散射防护铅板。 5.12 像质计的使用 5.12.1 像质计放置原则
丝型像质计像质计一般应放置在焊接接头的一端（在被检区长度的1/4左右位置），金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧；阶梯孔型像质计一般应放置于被检区中心部位的焊接接头热影响区以外，在不可能实现的情况下，至少应放置于熔敷金属区域以外。当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处，还应满足以下规定：
a） 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质
计可放置在源侧，也可放置在胶片侧；
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b） 单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧（球罐全景曝光除外）； c） 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放
一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质计灵敏度的规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求；
d） 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，F标记的影像应
与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。
5.12.2 像质计数量
原则上每张底片上都应有像质计的影像。当一次曝光完成多张胶片照相时，使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求：
a） 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置3个像质计； b） 球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时，在上极和下极焊缝的每张底片上都应放置像
质计，且在每带的纵缝和环缝上沿经度方向等间隔至少放置3个像质计；
c） 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。
5.12.3 小径管对接焊缝
小径管使用通用丝型和专用等径丝型像质计时，金属丝应横跨垂直焊缝放置。像质计应放置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧，但应在检测记录和报告中说明。 5.12.4 不等厚或不同种类材料之间对接焊缝
如果焊接接头的几何形状允许，不同厚度或材料类型不同的部位应分别采用与被检材料厚度或类型相匹配的像质计，并分别放置在焊接接头相对应部位。 5.12.5 管座角焊缝
推荐采用丝型像质计，根据像质计能够投影到被检测区的位置而放置。如果允许，像质计尽可能置于黑度最小的区域。 5.12.6 像质计影像识别
使用丝型像质计时，底片上能够识别的最细线的编号即为像质计灵敏度值。如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用等径丝型像质计至少应能识别两根金属丝。
使用阶梯孔型像质计时，底片上能够识别的最小孔的编号即为像质计灵敏度值，当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别。 5.13 标记
5.13.1 透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。底片标识能清晰的阅读且不至于对底片的评定带来影响，标记的材料和厚度应根据被检工件的厚度来选择，保证标记影像不模糊，也不至于产生眩光。 5.13.2 识别标记一般包括：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透照还应有返修标记，扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。
5.13.3 定位标记一般包括中心标记、搭接标记、检测区标记等。中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号的方向，一般用十字箭头“↑ ”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记，→可用符号“↑”或其他能显示搭接情况的方法（如数字等）表示。检测区标记采取的方式能够清晰标识检测区范围即可。
5.13.4 内外焊缝余高均磨平的情况，底片上不能直接正确测定和区别检测区位置和宽度时，应采
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用适当的定位标记（如采用铅质窄条）进行标识。
5.13.5 允许采用预曝光方式获得相关识别标记，但必须采取有效措施保证根据射线底片上的预曝光识别标记能追踪到工件的相应被检区域，并应采取有效屏蔽措施保证放置识别标记以外的区域不被曝光。
5.13.6 定位标记应放在工件上，其摆放应符合附录I的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。当由于结构原因，定位标记需要放置于胶片侧时，检测记录和报告应标注实际的评定范围，标记影像不得进入检测区源侧表面在底片上的投影区内。
5.13.7 识别标记允许放置于源侧或胶片侧，所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。
5.13.8 为了能精确的辨别底片位置，以被检工件上永久标识或部位作为参考点；如果因材料性质和使用条件而不能进行永久标识时，应采用其他方法（如布片图）确定底片位置。 5.14 胶片处理和底片质量检测 5.14.1 胶片处理
胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。可采用自动冲洗或手工冲洗方式处理，推荐采用自动冲洗方式处理。 原则上应采用胶片厂家生产或推荐的冲洗配方或药剂，在按GB/T 19384.2附录A经比较试验证明的条件下，也可以使用其他厂家的配方或药剂。
手工冲洗和自动冲洗胶片宜在曝光后8h之内完成，最长不得超过24h。 5.14.2 底片质量检验
暗室处理后的底片硫代硫酸盐离子的浓度一般应低于0.050g/m2。底片上硫代硫酸盐离子的浓度测量可参考附录J的要求执行，测量结果应记录。
检验的频率由检测方确定，但在此期间暗室处置条件应保持不变。 如果检验发现，硫代硫酸盐离子浓度大于0.050 g/m2，应采取以下行动： a） 停止暗室处理，并采取纠正措施； b） 重新核查定影和冲洗工序验证的符合性； c） 重新处置所有含有缺陷的底片。 5.14.3 灰雾度测量
本部分规定的灰雾度意义指未经曝光的胶片经暗室处理后的总黑度（乳胶+片基），胶片灰雾度应不超过0.3。灰雾度应针对不同时间购进的每一批胶片进行测量，从某一批（同时采购规格不计的胶片）中抽一样品与焊缝底片相同暗室处理条件下处理后进行灰雾度测量，当某一批次的胶片使用期限超过6个月时，应至少每6个月测量一次，以核查胶片是否符合4.2.2规定使用前储存的要求。 5.15 评片要求
5.15.1 评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜,光线应暗且柔和。 5.15.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为5 min～10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于30s。 5.15.3 评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：
a） 当底片评定范围内的黑度 D≤2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m；
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b） 当底片评定范围内的黑度 D＞2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2。 5.16 底片质量 5.16.1 黑度
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底片黑度应采用黑度计（光学密度计）进行测量，不同胶片透照技术和底片观察技术对应的黑度范围如下。
5.16.1.1 单胶片透照技术，单底片观察评定，底片评定范围内的黑度D应符合下列规定：
A级：1.5≤D≤4.5； AB级：2.0≤D≤4.5； B级：2.3≤D≤4.5。
5.16.1.2 双胶片透照技术，双底片叠加观察评定，评定范围内的黑度D应符合2.7≤D≤4.5的规定。
注1：双底片叠加评定时，黑度范围超过4.5的局部区域，如果单底片黑度范围符合5.16.1.1的规定时，可以对该区域进行单底片评定。
注2：采用分类相同的胶片时，在有效评定区内每张底片上相同点测量的黑度的差应不超过0.5。 注3：用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于1.3。 注4：应同时观察、分析和保存每张底片。
5.16.1.3 用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件，单底片观察评定时，AB级最低黑度允许降至1.5；B级最低黑度可降至2.0。
5.16.1.4 对检测区进行评定时，对应着不同的胶片透照技术或不同的底片观察技术的区域的黑度范围应分别在检测报告中进行标识。
5.16.1.5 评定区的最大黑度限值允许提高，但观片灯应经过校验，观片灯亮度应保证在底片最高黑度评定范围内的亮度能够满足5.15.3的要求。 5.16.2 底片的像质计灵敏度
单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5和表6的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表7和表8的规定的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表9和表10的规定。 5.16.3 其他要求
底片上，定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。
底片评定范围内不应存在影响影像观察的灰雾，干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、显影条纹、静电斑纹、压痕等伪缺陷影像，以及增感屏缺陷带来的各种伪影像。
在采用双胶片叠加观察评定时，如果其中一张底片存在轻微伪缺陷或划伤，在能够识别和不妨碍底片评定的情况下，可以接受该底片。
表5 丝型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧
应识别丝号 丝径/mm 19（0.050） 18（0.063） 17（0.080） 16（0.100） 15（0.125） 14（0.160） 13（0.20） 16
A 级 — — ≤1.2 ≤1.2～2.0 ＞2.0～3.5 ＞3.5～5.0 ＞5.0～7.0 公称厚度 （T）范围/mm AB级 — ≤ 1.2 ＞1.2～2.0 ＞2.0～3.5 ＞3.5～5.0 ＞5.0～7.0 ＞7.0～10 B 级 ≤1.5 ＞1.5～2.5 ＞2.5～4.0 ＞4.0～6.0 ＞6.0～8.0 ＞8.0～12 ＞12～20